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　　葉片是植物生長中進行光合作用的重要場所，而葉片葉面積的大小又影響了光合作用的速率，所以葉片面積的大小決定了植物的產量與生長狀態。一般來說葉面積大小都需要通過專業的儀器才能進行分析，比如我們常用的葉面積測量儀，葉面積測量儀可以實現對葉片葉面積、周長、葉片厚度、長度等參數的快速測定。

　　植物株體葉片性狀成為群體調控與栽培管理的重要依據。矯正系數法（K 值法）為目前測定作物葉面積最為簡便的方法，亦有學者如高志紅、艾軍、鄒偉等探索利用回歸方程方法求算葉面積。

　　前者用長徑(L)?寬徑(W)?矯正系數(K 值)求得葉面積(LA)，但其關鍵是葉面積矯正系數（K 值）的確定。后者是應用回歸統計法，統計出兩個品種葉長、葉寬和葉面積的相關關系，獲得葉長?葉寬與葉面積的回歸方程。利用圖像處理技術可提供精準的葉面積（S），以此為基礎，可獲得更確卻地矯正系數（K 值）和葉面積回歸方程。

　　植物作為一種植株形體、品質要求嚴格的觀賞植物，至今尚未見到有關植物葉面積矯正系數（K 值）估測方法或回歸方程法的報道。對冀北高原種植的植物葉面積的測定方法進行了研究，以期為植物葉面積的測定和田間診斷提供方法依據。